高分辨率 微米或纳米级三维计算机断层扫描&数字化 x光透视系统-凯发k8娱乐

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概述

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高分辨率 微米或纳米级三维计算机断层扫描&数字化 x光透视系统

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高分辨率三维计算机断层扫描

实时高分辨率数字化 x 光透视

纳米级分辨率配置可选

5-250 um  分辨率 (0.35 um  配置可选 )

最大样品尺寸( (直径 x 高度 :320 mm x 420mm)

可编程自动控制重复扫描

样品位置记忆

广泛的应用领域及产品分析

铅及钢铁结构,x射线内锁定系统,操作安全

 

技术规格

设备尺寸

• 2100x1100x2000 mm / 82.6x43.3x78.7 英寸

• 铅/钢铁结构,x 射线安全互锁,符合 x 射线安全使用要求

• x 射线照射时舱门自动锁定

• 扫描体积(直径 x 高度): 320 mm x 420 mm

机械轴 

• 高精度电动选装及移动轴

• 成像器水平,竖直方向移动(可选),增大扫描区域,降低环形伪影

• 空气轴承旋转台(可选),提高载重量

x 射线管多种类型射线管可选:

• 封闭式/开放式微米级 x 射线管

• 开放式纳米级 x 射线管(160kv)

• 最高电圧至 230 kv (可选)

• 分辨率 5-250 um(最高配置可至 0.35 um)

• 多种射线管灯丝可选

成像器 多种成像器可选:

• 高分辨率平板探测器

• 大面积平板探测器

• ccd 探测器

计算机 

• 多种强大的 gpu 配置

• 高分辨率显示器,windows 10.

软件 rx solutions x-act 软件:

• 主要插件用于驱动 x 光,成像器,机械轴,尺寸测量,图像/视频导出,图像采集,图像过滤,x 光透视,扫描模式(常规扫描,分段扫描,分块扫描,螺旋扫描)…

• 宏命令模式用于自动采集数据

• gpu 加速图像重建

• 三维可视化及后处理,cad 比对,气孔及壁厚分析组缺陷分析(可选)

  

 

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